Kempen, G. I. J. M. .; Meier, A. J. L.; Bouwens, S. F. M. .; van Deursen, J.; Verhey, F. R. J. Telefonisch Interview Cognitieve Status (TICS): Psychometrische Aspecten. TGG 2007, No. 1. https://doi.org/10.1007/BF03074823.