G. I. J. M. . Kempen, A. J. L. Meier, S. F. M. . Bouwens, J. van Deursen, and F. R. J. Verhey, “Telefonisch Interview Cognitieve Status (TICS): psychometrische aspecten”, TGG, no. 1, Feb. 2007, doi: 10.1007/BF03074823.